電子臺(tái)秤短時(shí)電壓測(cè)試方法 ① 預(yù)處理：不需要。 ② 被測(cè)電子臺(tái)秤的條件：將被測(cè)電子臺(tái)秤EUT置于恒定的環(huán)境條件下并穩(wěn)定。正常接通電源，“開機(jī)”時(shí)間大于或等于制造廠家規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間。 ③ 測(cè)試前盡量吧被測(cè)電子臺(tái)秤調(diào)整到接近于實(shí)際零示值，置零功能應(yīng)運(yùn)行。測(cè)試中不得對(duì)電子秤進(jìn)行調(diào)整，除非電子臺(tái)秤檢測(cè)到顯著誤差。 ④ 測(cè)試玄幻次數(shù)：至少一個(gè)循環(huán)。 ⑤ 試驗(yàn)載荷：應(yīng)使用一個(gè)約等于zui小秤量的試驗(yàn)載荷或50%Max到Max之間的模擬載荷對(duì)被測(cè)電子秤進(jìn)行測(cè)試。 ⑥ 將所有英影響因子穩(wěn)定在標(biāo)稱參考條件，施加試驗(yàn)載荷。 ⑦ 記錄：日期和時(shí)間，溫度，電源電壓，試驗(yàn)載荷，示值，誤差，功能操作。 ⑧ 調(diào)整試驗(yàn)發(fā)生器的電壓為電壓降低時(shí)期內(nèi)規(guī)定的電壓幅值，電壓幅值降低時(shí)間應(yīng)為所使用的交流電源電壓的一個(gè)或多個(gè)半周期（過零）數(shù)。在連接到被測(cè)電子臺(tái)秤EUT前應(yīng)對(duì)試驗(yàn)發(fā)生器進(jìn)行調(diào)校，按IEC 61000-4-11詳述的內(nèi)容進(jìn)行測(cè)試。電源電壓降低應(yīng)重復(fù)10次，每次之間間隔至少為10s。電壓中斷期間或電壓降低期間觀察其對(duì)被測(cè)電子秤的影響，并記錄有關(guān)數(shù)據(jù)。 ⑨ zui大允許變化：稱量的有干擾示值與無干擾示值之間的差值，應(yīng)不超出規(guī)定的顯著增差值，或被測(cè)電子臺(tái)秤應(yīng)檢測(cè)出顯著增差并作出反應(yīng)。 |
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